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雙折射（應力）測量系統 EXICOR-PV-Si還可測量藍寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用，可容納和測量直徑達8英寸的500毫米粗錠。

雙折射（應力）測量系統-EXICOR OIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統。

雙折射（應力）測量系統 EXICOR-GEN，液晶基板應力分布測量，大型液晶基板應力分布測量，應力測量。Hinds，Exicor GEN5， Exicor GEN6。

美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量 在與眾多的光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統，用于測量大面積光學材料，如用于LCD（高達1500mm x 1500mm）的光學材料。 隨著液晶顯示器材料規格的成熟，專業化的系統已經成為行業所需要的。Hinds現在提供從GEN5到GEN

該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90°。利用這些數據可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應力測量進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技術被用于評估光學雙折射

150AT 應力雙折射系統是Hinds應力雙折射測量系統家族系列產品，用于殘余應力檢測。該應力雙折射測量系統既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業生產中檢測產品應力分布。產品軟件直觀顯示待測樣品應力情況，便于操作和日常監測。

美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產價值的測量雙折射的能力。Exicor系統的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術的產品，該技術推出了超低雙折射光彈性調制器（PEM）。